Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices

edited by Josef Sikula, Michael Levinshtein

Dordrecht: Springer Netherlands; Imprint: Springer ; Dordrecht: Springer Science + Business Media, Inc., 2004; 2004

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Titel:	Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
Verantwortlichkeitsangabe:	edited by Josef Sikula, Michael Levinshtein
Autor/in / Beteiligte Person:	Sikula, Josef [Autor/in] ; Levinshtein, Michael [Sonstige]
Link:	DOI-Link (Volltext)
Verwandtes Werk:	Druck-Ausgabe
Veröffentlichung:	Dordrecht: Springer Netherlands; Imprint: Springer ; Dordrecht: Springer Science + Business Media, Inc., 2004; 2004
Medientyp:	Buch
Datenträgertyp:	Datenträger, Online-Ressource
ISBN:	9781402021701; 1402021704
DOI:	10.1007/1-4020-2170-4
Schlagwort:	Computer engineering Optical materials Physics Weights and measures
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Sprache: Englisch hbz Verbund-ID: TT050377636

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